Оборудование НОЦ «Нанотехнологии и наноматериалы»

 

1)    Аналитический автоэмиссионный растровый электронный микроскоп ULTRA 55, Carl Zeiss (Германия)

Назначение: изучение топологии, композиционного контраста поверхности во вторичных и обратно-рассеянных электронах, проведение прецизионных измерений частиц и включений, анализ элементного состава поверхности при помощи EDX-метода.

Характеристики: диапазон увеличений: 12-900 000 крат;

          Пространственное разрешение: 0,8 нм;

          Ускоряющее напряжение: до 30 кВ;

          Анализ элементов: от бора включительно.

                    

 

2) Многофункциональный дисперсионный спектрометр комбинационного рассеяния света Senterra (Bruker, США)

Назначение: определение отдельных химических групп и связей в молекулах, исследование внутри- и межмолекулярных взаимодействий, различных видов изомерии, фазовых переходов, обнаружения микропримесей и идентификации веществ.

Характеристики: модуль рамановского спектрометра с двойным лазером;

          модуль конфокального микроскопа;

          спектральный диапазон: 80-4500 см-1;

          спектральное разрешение 3 см-1;

          длины волн лазеров: 532 и 785 нм;

          пространственное разрешение микроскопа: 1 мкм;

          температурная приставка: от -196 до 600 град. С.

 

                                               

 

 3) Комплекс «Sorbi 4.1»

Назначение:  измерение удельной поверхности дисперсных и пористых материалов по 4-хточечному методу БЭТ. Определение полной изотермы адсорбции/десорбции, полный объём пор, объём микро- и мезопор, а ткже распределение мезопор по размерам.

Характеристики: Измерение пористости при размере пор от 2 нм;

          пределы измерения общей поверхности: 0,1-1000 м2/г;

          предел допускаемой относительной погрешности: не более 4-6 %.

 

                                       

 

4) Термомеханический анализатор/дилатометр Setsys Evolution 24 (Setaram Instrumentation, Франция)

Назначение: Определение кинетики спекания, вариации размеров образца как функции температуры, деформации при неосциллирующей нагрузке.

Характеристики: рабочий диапазон температур: 30-2400 град. С;

          Габариты исследуемого образца: диаметр до 10 мм, высота до 20 мм;

          Диапазон измерения изменения высоты образца – до 4 мм;

          Дискретность измерения изменения высоты: 10/100 нм.

 

                                       

 

5) Лазерный дифракционный анализатор размера частиц Analysette 22 NanoTec (Fritch, Германия)

Назначение: Измерение размера частиц в суспензиях, эмульсиях, порошках и аэрозолях.

 

Характеристики: диапазон измерений в жидкой/сухой среде: 0,01 – 2000 мкм;

          продолжительность измерения: около 10 сек.

 

                                   

 

6) Рентгеновский дифрактометр XRD-6000 (Shimadzu, Япония)

Назначение: Широкий спектр анализов в области рентгеновской дифрактометрии для анализа порошков, плёнок и трёхмерных образцов.

Характеристики: диапазон углов сканирования: от -6 до 163 угловых град.;

          шаг сканирования: 0,001 углового град.;

          скорость сканирования: от 0,1 до 50 град/мин.

              

 

42. Оборудование, введённое в эксплуатацию в 2012 г.

 

1) Вакуумная установка ALD VIGA 2B для плавки и распыления порошков

Назначение: Производит сверхчистую плавку и распыление жаропрочных и цветных сплавов, сталей различного состава для производства высококачественных металлических порошков

Характеристики: Номинальная мощность 60 кВА;

          Давление инертного газа: 20-40 бар;

          Эффективный объем тигля: 2 л;

          Вес расплава: около 14 кг;

          Температура плавления, макс.: 1900 ° С;

          Конечный вакуум в камере плавления: 5 х 10-2 мбар.

 

                              

 

2) Установка селективного лазерного спекания металлических порошков ReaLiser SLM 50 со станцией рассева PS 02

Назначение: Получение заготовок и изделий из металлических порошков на базе 3-D моделей операцией селективного лазерного спекания.

Характеристики: Источник - иттербиевый оптоволоконный лазер YLM-100-AC;

          мощьность источника: 0,1 кВт;

          длина волны излучения: 1070 нм;

          максимальные размеры детали: высота – 35 мм, диаметр – 70 мм;

          Гранулометрический состав используемых порошков: 10-40 мкм;

 

                                

 

3)    Система комплексного исследования материалов и покрытий на базе скретч тестера

Назначение: Изучение адгезии, хрупкости, деформации, отслаивания микро- и нанопленок и покрытий путем испытания царапанием

Характеристики: - Диапазон нагрузок (вертикальная сила) от 0.5 до 200 Н

- Диапазон скоростей нагрузки 0…300 Н/мин

- Разрешение по силе 3 мН

- Частота осцилляции: от 1 до 120 раз в сек

- Точность считывания: 0.1%

Активная система обратной связи для компенсации изменения высот и неровностей на поверхности

Сбор данных в реальном времени, частота регистрации > 5000 точек/сек

 

                  

 

4)    Интегрированный комплекс аппаратуры для научно-исследовательских и учебных работ по исследованию тепловых полей, на базе тепловизора NEC H2640

Назначение Визуализация и запись видеоизображения и термограмм распределения температуры по поверхности объекта в диапазоне от -40 до 2000 °C с большим разрешением.

Характеристики: Разрешение детектора теплового излучения: 640х480;

     Чувствительность: < 0.03 ° С;

     температурный диапазон от -40°С до +2000°С

     спектральный диапазон: 8-14 мкм;

                                    

 

5)    Установка синтеза гидрозолей нанокластеров металлов элеткроимпульсными разрядами

Назначение Получение гидрозолей, содержащих наночастицы металлов таких как серебро, никель и др. с размерами несколько десятков нанометров.

Характеристики: Размер частиц - 7-100 нм

Устойчивая концентрация по серебру - до 50 м г/литр, без использования стабилизирующих добавок

Рабочие жидкости: -вода дистиллированная, спирт и др.

Рабочее напряжение - 3000-7000 В

Рабочие токи - импульсные - 0,5 - 1 кА