|
|
Оборудование "НТиНМ" |
|
1 |
Сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения Merlin (Carl Zeiss, Германия, 2010) |
|
2 |
Сканирующий электронно-ионный микроскоп Neon 40 (Carl Zeiss, Германия, 2008) |
|
3 |
Наноиндентометр G200 (MTS NanoInstruments, США, 2007) |
|
4 |
Сканирующий зондовый микроскоп di Innova SPM (Veeco-Digital Instruments, США, 2007) |
|
5 |
Разрывная машина MTS 870 Landmark (MTS, США, 2008) |
|
6 |
Спектрофотометр Lambda 950 (PerkinElmer, США, 2008) |
|
7 |
Анализатор площади поверхности и размеров пор AUTOSORB iQ-C (Quantachrome, США, 2011) |
|
8 |
Дифрактометр D2Phaser (Bruker AXS, Германия, 2011) |
|
9 |
Термоанализатор EXSTAR TG/DTA7200 (SII Nano Technology, Япония, 2011) |
|
10 |
Анализатор размеров частиц и дзета-потенциала Zetasizer Nano ZS (Malvern, Великобритания, 2011) |
|
11 |
Профилометр Wyko NT9080 (Bruker AXS, Германия, 2010) |
|
12 |
Твердомер Duramin-A300 (Struers, Дания, 2008) |
|
13 |
Нанотрибоиндентометр TI950 TriboIndenter (Hysitron, США, 2010) |
|
14 |
Установка для электроспиннинга Nanon-01A (Mеcc Co, Япония, 2010) |
|
15 |
Экструдер с формовочной системой DSM Xplore 5 (DSM Xplore, Нидерланды, 2011) |
|
16 |
ИК-Фурье спектрометр FT/IR-6200 (Jasco, Япония, 2011) |
|
17 |
Динамический термомеханический спектрометр EXSTAR DMS6100 (SII NanoTechnology, Япония, 2010) |
|
18 |
Зондовая лаборатория Интегра Спектра (НТ-МДТ, Россия, 2007) |
|
19 |
Инвертированный металлографический микроскоп Axio Observer A1m (Carl Zeiss, Германия, 2007) с цифровой системой захвата и анализа изображения |
|
20 |
Печь муфельная с программируемым контроллером LEF – 215P (Daihan Labtech, Ю.Корея, 2012) |
|
21 |
Печь муфельная с программируемым контроллером LEF – 215P (Daihan Labtech, Ю.Корея, 2012) |