НОЦ по направлению "Нанотехнологии"

Просвечивающий аналитический 200 кВ электронный микроскоп JEM-2100 фирмы Jeol - минералогия, разработка новых материалов.

Растровый электронный микроскоп JSM-6460LV фирмы Jeol с EDS-, WDS- и Crystal- приставками фирмы «Oxford» - минералогия, геология, палеонтология, металлургия, разработка новых материалов.

Растровый электронный микроскоп JSM-7001F с катодом Шоттки (термополевая эмиссия) - минералогия, металлургия, разработка новых материалов.

Двулучевой микроскоп JIB-4500, включающий РЭМ с LaB6-катодом и Ga+-ионную пушку - минералогия, металлургия, технология покрытий.

Сканирующий зондовый микроскоп JSPM-5400 - минералогия, разработка новых материалов.

Инвертированный материаловедческий микроскоп Olympus GX71 -минералогия, металлургия, разработка новых материалов.

Просвечивающий микроскоп Olympus BX51 - минералогия, металлургия, разработка новых материалов.

Рентгенофлуоресцентный EDS-спектрометр ED-2000 фирмы Oxford - минералогия, металлургия, разработка новых материалов.

Последовательный рентгенофлуоресцентный спектрометр XRF - 1800 фирмы Shimadzu - минералогия, металлургия, разработка новых материалов.

Рентгеновский порошковый дифрактометр XRD-6000 фирмы «Shimadzu» с высокотемпературной камерой НА1001 - минералогия, металлургия, разработка новых материалов.

Рентгеновский порошковый дифрактометр XRD-7000 фирмы «Shimadzu» - минералогия, металлургия, разработка новых материалов.

Атомно-абсорбционный спектрометр АА6300 фирмы «Shimadzu» - минералогия, горное дело, экология, металлургия.

Оптический эмиссионный спектрометр параллельного действия с индуктивно-связанной плазмой ICPE-9000 фирмы «Shimadzu» - минералогия, металлургия, разработка новых материалов, нефтехимия.

Лазерный анализатор распределения размеров частиц Horiba LB-550 - минералогия, разработка новых материалов.

Анализатор SDT Q-600 - минералогия, разработка новых материалов.

Портативный рентгенофлуоресцентный спектрометр Niton XLt серии 500 - минералогия, геология, металлургия, разработка новых материалов, экология.

Установка для травления поверхностей твердых образцов и напыления на них пленок углерода или золота, контролируемой толщины фирмы «Edwards»

Назначение: Покрытие образцов пленкой углерода или золота для анализа их в условиях высокого разрешения.

Возможности: Удаление нарушенного поверхностного слоя и контролируемое напыление для непроводящих и слабопроводящих образцов путем травления или очистки поверхности образца пучком заряженных частиц в низком вакууме и напыление с помощью углеродного волокна или металлической мишени. Установка обеспечивает однородность покрытия даже на неровных поверхностях.


Установка ионного утонения Ion Slicer (EM-09100IS) фирмы Jeol

Назначение: Предназначена для механического и ионного утонения образцов минералов, керамики, горных пород при дальнейшем их исследовании на просвечивающем электронном микроскопе.

 

Растровый электронный микроскоп JSM-6460LV фирмы Jeol с EDS-, WDS- и Crystal- приставками фирмы «Oxford»

Решаемые задачи:

Исследование в различных режимах растровой электронной микроскопии неровных поверхностей в низком и высоком вакууме с высоким разрешением до *300 000 (характера излома, трещиноватости, коррозии, морфологии продуктов износа объекта или его преобразования);

Исследование неоднородности образца за счет превосходного разрешения мелкомасштабных деталей в режиме композиционного контраста, экспресс–оценка соотношения различных фаз, неразрушающий рентгеновский микроанализ элементов от B до U;

Определение аморфного состояния или типа кристаллической решетки для 7 сингоний в отдельном участке поверхности образца с помощью Crystal-приставки;

Исследование неоднородных материалов методами линейного сканирования и EDS-картирования, в том числе процессов диффузии, характера изменения концентраций элементов вблизи границ фаз.

Исследование образцов в низковакуумном режиме работы без напыления токопроводящим слоем, в том числе стекла, керны со следами нефтепродуктов, геммологические образцы и т.д.

Области применения: минералогия, геология, палеонтология, металлургия, разработка новых материалов.

 

Растровый электронный микроскоп JSM-7001F с катодом Шоттки (термополевая эмиссия)

Решаемые задачи:

исследование структурно-химических особенностей твердых образцов (горных пород, руд, минералов, сплавов, керамик и т.п.),

анализ образцов в точке, а также распределение химических элементов по линии или площади с использованием EDS-спектрометра в диапазоне элементов от B до U.

Область применения: минералогия, металлургия, разработка новых материалов.

 

Двулучевой микроскоп JIB-4500, включающий РЭМ с LaB6-катодом и Ga+-ионную пушку.

 

 

Решаемые задачи:

исследование твердых образцов после выполнения разрезов ионным лучом с микронным разрешением с последующим изучением срезов в режимах РЭМ с EDS- анализом;

исследование пленок, покрытий, гетерогенных по глубине образцов.

Область применения: минералогия, металлургия, технология покрытий.

Рентгеновский порошковый дифрактометр XRD-6000 фирмы «Shimadzu»

с высокотемпературной камерой НА1001

 

Решаемые задачи:

высокотемпературная дифрактометрия в вакууме, инертном газе, воздухе до 1300ºС;

прецизионное определение параметров кристаллической решетки порошковых проб;

определение соотношения аморфной и кристаллической фаз.

Область применения: Минералогия, металлургия, разработка новых материалов.

Оптический эмиссионный спектрометр параллельного действия с индуктивно-связанной плазмой ICPE-9000 фирмы «Shimadzu».

 

 

Решаемые задачи:

проведение качественного и полуколичественного многоэлементного анализа  неорганических растворов  неизвестного состава;

определение элементов  от Li до Th в различных материалах (горных породах, рудах, минералах, сплавах, почвах и т.п.) после кислотного растворения в диапазоне содержаний от n10-4до n10 %;

элементный анализ органический жидкостей, нефтей и нефтепродуктов;

анализ природных и промышленных вод, технологических растворов на содержание элементов  от Li до Th  с пределом обнаружения  - 1 мкг/л.

 

Область применения: минералогия, металлургия, разработка новых материалов, нефтехимия.

Лазерный анализатор распределения размеров частиц Horiba LB-550

Решаемые задачи:

определение размеров частиц в диапазоне размеров от 1 нм до 6 мкм;

определение вязкости растворов в диапазоне температур от 20 до 70 0С.

Области применения: минералогия, разработка новых материалов.

 

Лазерный анализатор распределения размеров частиц Horiba LА-950

 

Решаемые задачи:

определение размеров частиц в диапазоне от 10 нм до 3 мм;

определение размеров частиц в различных жидкостях (вода органические растворители)

Области применения: минералогия, разработка новых материалов.

 

3.