|
Полное название НОЦ: |
|
Научно-образовательный центр по направлению "нанотехнологии" |
|
Краткое название НОЦ: |
|
НОЦ НТ |
|
Статус НОЦ: |
|
структурное подразделение в составе организации (ВУЗа) |
|
Город: |
|
Томск |
|
Регион: |
|
Томская область |
|
Федеральный округ: |
|
Сибирский |
|
Руководитель НОЦ: |
|
Малютин Николай Дмитриевич |
|
Должность руководителя НОЦ: |
|
Директор |
|
Ученая степень руководителя НОЦ: |
|
Доктор технических наук |
|
Ученое звание руководителя НОЦ: |
|
Профессор |
|
Телефон руководителя НОЦ: |
|
(3822) 52-79-42 |
|
E-mail руководителя НОЦ: |
|
|
|
Организация учредитель: |
|
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования «Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники». |
|
Руководитель организации-учредителя: |
|
Шурыгин Юрий Алексеевич |
|
Ученая степень руководителя организации-учредителя: |
|
Доктор технических наук |
|
Ученое звание руководителя организации-учредителя: |
|
Профессор |
|
Телефон руководителя организации-учредителя: |
|
(3822) 510-530 |
|
E-mail руководителя организации-учредителя: |
|
|
|
Контактное лицо: |
|
Малютин Николай Дмитриевич |
|
Телефон контактного лица: |
|
(3822) 52-79-42 |
|
E-mail контактного лица: |
|
|
|
Факс контактного лица: |
|
(3822) 51-43-02 |
|
Реализуемые базовые направления деятельности НОЦ в рамках ННС (не более трех, ранжировать по значимости) |
1 |
Наноэлектроника |
2 |
Наноинженерия |
3 |
|
|
Приоритетные направления развития науки, технологий и техники в РФ, реализуемые на базе НОЦ (не более трех, ранжировать по значимости) |
1 |
Индустрия наносистем. |
2 |
Информационно-телекоммуникационные системы. |
3 |
Перспективные виды вооружения, военной и специальной техники. |
|
Критические технологии РФ, реализуемые на базе НОЦ (не более десяти, ранжировать по значимости) |
1 |
Технологии создания электронной компонентной базы и энергоэффективных световых устройств. |
2 |
Компьютерное моделирование наноматериалов, наноустройств и нанотехнологий. |
3 |
Технологии диагностики наноматериалов и наноустройств. |
4 |
Базовые и критические военные и промышленные технологии для создания перспективных видов вооружения, военной и специальной техники. |
5 |
|
6 |
|
7 |
|
8 |
|
9 |
|
10 |
|
|
Базовая профессионально – тематическая ориентация НОЦ (не более пяти, ранжировать по значимости) |
1 |
Наноэлектроника |
2 |
Процессы нанотехнологии |
3 |
Моделирование и проектирование наносистем |
4 |
Испытание нанопродукции |
5 |
|
|
Доминирующие организационные формы функционирования НОЦ (не более пяти, ранжировать по значимости) |
1 |
Центр прототипирования |
2 |
Центр коллективного пользования |
3 |
Центр метрологического обеспечения |
4 |
Центр базовых образовательных технологий |
5 |
|
|
Функциональная ориентация НОЦ (не более пяти, ранжировать по значимости) |
1 |
Фундаментальные и поисковые исследования |
2 |
Прикладные исследования |
3 |
Прототипирование, контрактное и мелкосерийное производство |
4 |
Подготовка кадров в рамках основного образовательного процесса |
5 |
Коллективное использование уникального оборудования, в том числе дистанционный доступ |
|
Преимущественный вид выполняемых работ (не более пяти, ранжировать по значимости) |
1 |
Научно-исследовательские работы |
2 |
Опытно-конструкторские работы |
3 |
Опытно-технологические работы |
4 |
Услуги: образовательный процесс |
5 |
|
|
Доминирующие источники финансирования (ранжировать по значимости) |
1 |
Хоздоговорная деятельность |
2 |
Федеральные целевые программы |
3 |
Российские гранты |
4 |
Ведомственные программы |
5 |
|
6 |
|
|
Предлагаемый вид наукоемкой продукции в рамках возможного сетевого сотрудничества (ранжировать по значимости) |
1 |
Производственные технологии и маршруты |
2 |
Технологические операции |
3 |
Программные средства |
4 |
|
5 |
|
6 |
|
|
Результаты научно-технической и образовательной деятельности (указать три приоритетных из выборки) |
1 |
Модель(макет) |
2 |
Способ |
3 |
Метод |
|
Базовые направления создания объектов интеллектуальной собственности ( указать три приоритетных из выборки) |
1 |
Топология интегральной микросхемы |
2 |
Изобретение |
3 |
Программа для ЭВМ |
|
Наиболее значимые патенты за период 2009-2012 гг (не более 5) дата приоритета, номер, название |
1 |
04.09.2009, №2406182. Способ халькогенизации поверхности GаAs |
2 |
10.09.2009, №2402103. Способ пассивации поверхности GаAs |
3 |
12.08.2009, №2422941. Способ изготовления омического контакта к GaAs на основе тонких пленок Ge и Cu |
4 |
10.03.2011, №2458429. Способ получения тонкопленочного медно-германиевого соединения |
5 |
30.05.2011, №2460172. Транзистор на основе полупроводникового соединения и способ его изготовления |
|
Реализуемые на базе НОЦ образовательные программы: |
|
Основные образовательные программы (не более 5- номера направлений и их названия) |
1 |
210600.62 «Нанотехнология» |
2 |
210104.65 «Микроэлектроника и твердотельная электроника» |
3 |
210100.62 «Электроника и микроэлектроника» |
4 |
|
5 |
|
|
Программы повышения квалификации (не более 2) |
1 |
Наноэлектроника |
2 |
|
|
Программы переподготовки кадров (не более 2) |
1 |
Программа
переподготовки специалистов в области промышленного производства |
2 |
|
|
Программы профессиональной ориентации школьников (названия направлений дисциплин) |
1 |
|
2 |
|
|
Научно-образовательная полиграфическая продукция (ранжировать по значимости) |
1 |
Статьи в реферируемых изданиях |
2 |
Учебное пособие |
3 |
Статьи в иностранных изданиях |
4 |
|
5 |
|
|
Избранные публикации по тематике деятельности НОЦ (не более 10) |
1 |
Е.В. Ерофеев, В.А. Кагадей, С.В. Ишуткин, К.С. Носаева, Е.В. Анищенко, В.C. Арыков / Разработка бездрагметального GaAs pHEMT транзистора с субмикронным Т-образным затвором // Доклады ТУСУРа, № 2 (22), часть 1, с. 183 – 186, декабрь 2010. |
2 |
E. Erofeev, S.V. Ishutkin, V.A. Kagadei, K.S. Nosaeva / Multilayer low-resistance Ge/Au/Ni/Ti/Au based ohmic contact to n-GaAs // Proceedings of the 5th European Microwave Integrated Circuits Conference 27-28 September 2010, Paris, France, pp. 290 – 293, ISBN: 978-2-87487-017-0 |
3 |
Е.В. Ерофеев, В.А. Кагадей. Особенности формирования низкорезистивного омического контакта Ge/Au/Ni/Ti/Au омического контакта к n-GaAs. // Микроэлектроника, т. 41, №2, с.1-8, 2012. |
4 |
Системы автоматизированного моделирования и проектирования технологических процессов и технологических маршрутов производства СВЧ МИС, оптимизация производства (основы САПР Synopsys TCAD): учеб. пособие / Д.Д. Зыков, К.Ю. Осипов. – Томск: В-Спектр, 2010. – 76 с. |
5 |
Арыков В.С., Гаврилова А.М., Дедкова О.А., Кагадей В.А., Лиленко Ю.В. Формирование субмикронного затвора GaAs ПТШ с использованием четырёхслойного диэлектрического макета // Микроэлектроника. – 2012. – том 41, №. 3. – С. 181–187. |
6 |
Арыков В.С., Дедкова О.А., Кривчук А.С., Ющенко А.M. GaAs СВЧ МИС двухпозиционного коммутатора в SO-8 пластиковом корпусе // Электронная техника. Серия 2. Полупроводниковые приборы – 2012. – том 229, №. 2. – С. 3–8. |
7 |
Мокеров В.Г., Бабак Л.И., Федоров Ю.В., Черкашин М.В., Шеерман Ф.И., Бугаев А.С., Кузнецов А.Л., Гнатюк Д.Л. Разработка комплекта монолит-ных малошумящих усилителей Х-диапазона на основе 0,15 мкм GaAs pHEMT технологии // Доклады ТУСУР. – 2010. – №2 (22). – Ч.1. – С. 105-117. |
8 |
Песков М.А., Дорофеев С.Ю., Барышников А.С., Кошевой С.Е., Добуш И.М., Шеерман Ф.И., Бабак Л.И. Интеллектуальная система автоматизированного проектирования СВЧ-устройств INDESYS // Информационные технологии. – 2010. - №2. - С. 42 – 48. |
9 |
Данилина Т.И., Кагадей В.А., Анищенко Е.В. Технология кремниевой наноэлектроники: Учебное пособие. – Томск: В-Спектр, 2011. – 263 с. ISBN 978-5-91191-203-1 |
10 |
Данилина Т.И., Чистоедова И.А. Оборудование для создания и исследования свойств объектов наноэлектроники: Учебное пособие. – Томск: В-Спектр, 2011. – 96 с. ISBN 978-5-91191-202-3 |
|
Виды предоставляемых услуг (ранжировать по значимости) |
1 |
Изготовление продукции на заказ |
2 |
Проведение совместных исследований и разработок |
3 |
Подготовка/переподготовка кадров |
4 |
|
5 |
|
|
Международная кооперация (ранжировать по значимости, исходя из реализуемых направлений) |
1 |
Совместное выполнение научных исследований |
2 |
Стажировка сотрудников |
3 |
Совместные образовательные программы |
4 |
|
5 |
|
|
Уровень научно-технической деятельности (самооценка) |
|
Соответствует мировому уровню |
|
Уровень образовательной деятельности (самооценка) |
|
Соответствует мировому уровню |